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      半導體中空玻璃露點儀
      半導體中空玻璃露點儀 添加時間:2021-9-10 14:50:14

      半導體中空玻璃露點儀產品用途:用于檢測中空玻璃露點測試。

      產品詳情

      半導體中空玻璃露點儀產品用途:用于檢測中空玻璃露點測試。

      半導體中空玻璃露點儀產品適用標準:GB/T11944-2012《中空玻璃》

      半導體中空玻璃露點儀技術參數:

      1、冷測頭的溫度:<-60℃

      2、溫度分辨率:0.1℃

      3、測試箱 長×寬×高(mm):1040×550×820

      4、測溫精度:±0.5℃

      5、時間范圍:1~10min(可任意設定)

      6、時間分辨率:1s

      7、配帶動力:交流220V,   功率:0.6Kw

      8、自重:40kg

      半導體中空玻璃露點儀主要特點:

      1、運用先進的復迭式壓縮機制冷技術;

      2、操作簡單,顯示直觀。